靜態(tài)光散射（Static Light Scattering，SLS）是表征高分子聚合物、蛋白質(zhì)、納米顆粒等分子量和尺寸的重要技術(shù)。這種方法通過測(cè)量溶液或懸浮液中顆粒對(duì)入射光的散射強(qiáng)度，利用光學(xué)理論計(jì)算顆粒的平均分子量、根均方旋轉(zhuǎn)半徑等參數(shù)，是聚合物科學(xué)研究和工業(yè)質(zhì)量控制中的分析手段。
基本原理基于瑞利散射理論。當(dāng)一束單色光通過溶液時(shí)，溶質(zhì)顆粒會(huì)對(duì)光產(chǎn)生散射。在稀溶液條件下（顆粒間相互作用可忽略），散射光強(qiáng)與溶質(zhì)濃度和分子量成正比。通過測(cè)量不同濃度下的散射強(qiáng)度，利用Zimm方程外推至濃度為零時(shí)的值，可得到絕對(duì)分子量（無需標(biāo)準(zhǔn)品校準(zhǔn)）。此外，從角度依賴的散射數(shù)據(jù)還可以得到顆粒尺寸信息（旋轉(zhuǎn)半徑）。
儀器設(shè)備包括光源、光路系統(tǒng)、檢測(cè)器和數(shù)據(jù)處理單元。光源通常采用激光（常用氦氖激光或半導(dǎo)體激光），提供穩(wěn)定、單色的入射光；光路系統(tǒng)包括衰減器、偏振器和準(zhǔn)直系統(tǒng)；檢測(cè)器采用光電倍增管或雪崩光電二極管，測(cè)量不同角度的散射光強(qiáng)；數(shù)據(jù)處理單元進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和Zimm圖分析?，F(xiàn)代儀器可自動(dòng)控制角度掃描和溫度，提供自動(dòng)化測(cè)試。
技術(shù)特點(diǎn)突出絕對(duì)性和全面性。直接測(cè)量分子量，無需標(biāo)準(zhǔn)品校準(zhǔn)，結(jié)果具有絕對(duì)性；可同時(shí)獲得重均分子量（Mw）、數(shù)均分子量（Mn）、Z均分子量（Mz）和旋轉(zhuǎn)半徑（Rg）；測(cè)量范圍寬，可從幾千到幾千萬分子量；樣品用量少，通常只需幾毫克；對(duì)樣品純度要求高，需要除塵和過濾。
應(yīng)用領(lǐng)域覆蓋高分子和生物大分子研究。聚合物分子量測(cè)定是基本應(yīng)用，用于表征聚合物分子量分布；聚合物溶液行為研究，包括第二維利系數(shù)測(cè)定（反映溶劑好壞）；蛋白質(zhì)和核酸等生物大分子研究；納米顆粒和膠體體系表征；聚合物共混物的相容性研究。在這些應(yīng)用中，靜態(tài)光散射提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。
技術(shù)發(fā)展與其他技術(shù)聯(lián)用。與動(dòng)態(tài)光散射聯(lián)用，同時(shí)獲得分子量和粒徑分布；與凝膠滲透色譜（GPC/SEC）聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)分子量分布的精準(zhǔn)測(cè)定；自動(dòng)化程度提高，樣品處理更簡(jiǎn)便；低溫長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量提高信噪比。作為高分子分子量表征的重要方法，靜態(tài)光散射將繼續(xù)在聚合物科學(xué)中發(fā)揮關(guān)鍵作用。
